iPhone XR 용 LCD 터치 스크린

터치 스크린의 전자기 간섭 문제 해결 방법

터치 스크린 HMI를 갖춘 모바일 핸드 헬드 장치를 개발하는 것은 특히 다중 터치 인터페이스의 현재 주류 기술을 나타내는 투영 된 정전성 터치 스크린 설계의 복잡한 설계 과제입니다. 투영 된 용량 성 터치 스크린은 손가락이 화면에 닿는 위치를 정확하게 찾을 수 있으며, 작은 커패시턴스의 작은 변화를 측정하여 손가락의 위치를 ​​판단 할 수 있습니다. 이러한 터치 스크린 애플리케이션의 주요 설계 고려 사항은 시스템 성능에 대한 전자기 간섭 (EMI)의 영향입니다. 간섭으로 인한 성능 저하는 터치 스크린 설계에 해로운 영향을 미칠 수 있으며, 이러한 간섭 소스는이 기사에서 탐색 및 분석됩니다.

투영 된 용량 성 터치 스크린 구조
전형적인 투영 된 용량 성 센서는 유리 또는 플라스틱 덮개 아래에 장착됩니다. 그림 1은 2 층 센서의 단순화 된 측면도를 보여줍니다. 투과 (TX) 및 수신 (RX) 전극은 투명 인디듐 주석 산화물 (ITO)에 연결되어 크로스 매트릭스를 형성하며, 각각의 TX-RX 접합은 특징적인 커패시턴스를 갖는다. TX ITO는 RX ITO 아래에 있으며, 중합체 필름 또는 광학 접착제 (OCA)로 분리됩니다. 그림과 같이, TX 전극의 방향은 왼쪽에서 오른쪽으로, RX 전극의 방향은 용지의 외부에서 내부로 이루어집니다.

센서의 작동 방식
간섭 요인을 잠시 고려하지 않고 터치 스크린의 작동을 분석 해 봅시다. 운영자의 손가락은지면 잠재력에 있다고합니다. RX는 터치 스크린 컨트롤러 회로에 의해지면 전위에서 유지되는 반면 TX 전압은 가변적입니다. 다양한 TX 전압은 전류가 TX-RX 커패시터를 통해 흐르게합니다. 신중하게 균형 잡힌 RX 통합 회로, RX에 들어가는 전하를 분리하고 측정합니다. 측정 된 전하는 TX와 RX를 연결하는 "상호 커패시턴스"를 나타냅니다.
센서 상태 : 만지지 않았습니다
그림 2는 손길이 닿지 않은 상태에서 자기력 라인의 개략도를 보여줍니다. 핑거 터치가없는 경우, TX-RX 플럭스 라인은 덮개 내부에 상당한 양의 공간을 차지합니다. 프린지 플럭스 라인은 전극 구조 밖으로 투영되므로 "투영 된 커패시턴스"라는 용어입니다.
센서 상태 : 터치
손가락이 덮개에 닿으면 TX와 손가락 사이에 자기력 라인이 형성되며, 이러한 자기력 라인은 그림 3과 같이 많은 수의 TX-RX 프린지 자기 필드를 대체합니다. TX-RX 상호 커패시턴스. 전하 측정 회로는 변화하는 커패시턴스 (△ C)를 식별하여 TX-RX 접합부에 손가락을 감지합니다. TX-RX 매트릭스의 모든 교차점에서 meas C 측정을 수행함으로써 전체 패널의 터치 분포 맵을 얻을 수 있습니다.
그림 3은 또한 또 다른 중요한 효과를 보여줍니다 : 손가락과 RX 전극 사이의 용량 성 커플 링. 이 경로를 통해 전기 간섭은 RX에 부합 할 수 있습니다. 어느 정도의 핑거 -RX 커플 링은 피할 수 없습니다.